Mostrando
1 - 5
Resultados de
5
Para Buscar '
Campabadal, F.
'
Saltar al contenido
BDU
3
Inicio
Su cuenta
Salir
Entrar
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
Autor
Campabadal, F.
Mostrando
1 - 5
Resultados de
5
Para Buscar '
Campabadal, F.
'
, tiempo de consulta: 0.01s
Limitar resultados
Ordenar
Relevancia
Fecha Descendente
Fecha Ascendente
Autor
Título
1
Radiation effects on high-k dielectrics. Measurement technique and first results
por
Salomone, L.S.
,
Kasulin, A.
,
Inza, M.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.
,
Carbonetto, S.
,
Campabadal
,
F
.
,
Faigón, A.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
2
Comparative analysis of MIS capacitance structures with high-k dielectrics under gamma, 16O and p Radiation
por
Quinteros, C.P.
,
Salomone, L.S.
,
Redin, E.
,
Rafí, J.M.
,
Zabala, M.
,
Faigón, A.
,
Palumbo, F.
,
Campabadal
,
F
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
JOUR
Agregar a favoritos
Guardado en:
3
Charge trapping/detrapping in HfO2-based MOS devices
por
Salomone, L.S.
,
Carbonetto, S.H.
,
Inza, M.A.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redín, E.G.
,
Campabadal
,
F
.
,
Faigón, A.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
4
Comparative analysis of MIS capacitive structures with high-K dielectrics under gamma, 16O and p radiation
por
Quinteros, C.
,
Sambuco Salomone, L.
,
Redín, E.
,
Rafí, J.M.
,
Zabala, M.
,
Faigón, A.
,
Palumbo, F.
,
Campabadal
,
F
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
5
Experimental evidence and modeling of two types of electron traps in Al2O3 for nonvolatile memory applications
por
Sambuco Salomone, L.
,
Lipovetzky, J.
,
Carbonetto, S.H.
,
García Inza, M.A.
,
Redin, E.G.
,
Campabadal
,
F
.
,
Faigón, A.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
JOUR
Agregar a favoritos
Guardado en:
Herramientas de búsqueda:
RSS
—
Enviar por Correo electrónico esta Búsqueda
Materias Relacionadas
High-k dielectric
High-k gate dielectrics
MOS devices
Radiation effects
Capacitance
Comparative analysis
Hafnium oxides
High-K gate dielectrics
Insulating layers
MOS capacitors
Nanoelectronics
Alumina
Aluminum
Atomic layer deposited
Atomic layer deposition
C-V curve
C-V measurement
Capacitance voltage
Capacitance-voltage curve
Capacitance-voltage techniques
Capacitive structure
Charge trapping/detrapping
Constant capacitance
Dielectric materials
Electrical characteristic
Electron trap density
Electron traps
Experimental evidence
Gamma photons
Gate dielectrics
Cargando...