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Comparative analysis of MIS capacitance structures with high-k dielectrics under gamma, 16O and p Radiation
por
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,
Salomone, L.S.
,
Redin, E.
,
Rafí
,
J.M
.
,
Zabala, M.
,
Faigón, A.
,
Palumbo, F.
,
Campabadal, F.
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Comparative analysis of MIS capacitive structures with high-K dielectrics under gamma, 16O and p radiation
por
Quinteros, C.
,
Sambuco Salomone, L.
,
Redín, E.
,
Rafí
,
J.M
.
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Zabala, M.
,
Faigón, A.
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