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1
Comparative analysis of MIS capacitance structures with high-k dielectrics under gamma, 16O and p Radiation
por
Quinteros
,
C.P
.
,
Salomone, L.S.
,
Redin, E.
,
Rafí, J.M.
,
Zabala, M.
,
Faigón, A.
,
Palumbo, F.
,
Campabadal, F.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
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