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Zero temperature coefficient bias in MOS devices. Dependence on interface traps density, application to MOS dosimetry
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Zero temperature coefficient bias in MOS devices. Dependence on interface traps density, application to MOS dosimetry
por
Carbonetto, S.H
Publicado 2011
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Zero temperature coefficient bias in MOS devices. Dependence on interface traps density, application to MOS dosimetry
por
Carbonetto, S.H.
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García Inza, M.A.
,
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.G.
,
Sambuco Salomone, L.
,
Faigon, A.
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Lipovetzky, J.
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Sambuco Salomone, L.
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Carbonetto, S.H
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Carbonetto, S.H.
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García Inza, M.A
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