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  • Versión - Zero temperature coefficient bias in MOS devices. Dependence on interface traps density, application to MOS dosimetry
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  1. 1
    Zero temperature coefficient bias in MOS devices. Dependence on interface traps density, application to MOS dosimetry
    por Carbonetto, S.H
    Publicado 2011
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    Aportado por: Biblioteca Central Dr. Luis F. Leloir (FCEN)
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    Zero temperature coefficient bias in MOS devices. Dependence on interface traps density, application to MOS dosimetry
    por Carbonetto, S.H., García Inza, M.A., Lipovetzky, J., Redin, E.G., Sambuco Salomone, L., Faigon, A.
    Aportado por: Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
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Biblioteca Central Dr. Luis F. Leloir (FCEN) 1 Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) 1
Capítulo de libro 1 JOUR 1
Lipovetzky, J. 2 Sambuco Salomone, L. 2 Carbonetto, S.H 1 Carbonetto, S.H. 1 Faigon, A. 1 Faigón, Adrián Néstor 1 García Inza, M.A 1 García Inza, M.A. 1 Redin, E.G 1 Redin, E.G. 1 ver todos ...
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