Tipo de registro dentro de su búsqueda.
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1por Real, Mariano, Lass, Eric A., Liu, Fan-Hung, Shen, Tian, Jones, George R., Soons, Johannes A., Newell, David B., Davydov, Albert V., Elmquist, Randolph E., INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, USMaterias: “...Crecimiento...”
Publicado 2013
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