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INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
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Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards
por
Real, Mariano
,
Lass, Eric A.
,
Liu, Fan-Hung
,
Shen, Tian
,
Jones, George R.
,
Soons, Johannes A.
,
Newell, David B.
,
Davydov, Albert V.
,
Elmquist, Randolph E.
,
INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
,
Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, US
Publicado 2013
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Davydov, Albert V.
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Elmquist, Randolph E.
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INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, US
1
Jones, George R.
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Lass, Eric A.
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Liu, Fan-Hung
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Newell, David B.
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Real, Mariano
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Shen, Tian
Soons, Johannes A.
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