Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.
Proyecto Final Integrador
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | acceptedVersion Tesis de grado Trabajo final de grado |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson
2018
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145 |
| Aporte de: |
| Sumario: | Proyecto Final Integrador |
|---|