Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.

Proyecto Final Integrador

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Garraza, María Soledad
Otros Autores: Vega, Daniel
Formato: acceptedVersion Tesis de grado Trabajo final de grado
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson 2018
Materias:
FÍSICA NUCLEAR
RADIACTIVIDAD
RAYOS X
PROPIEDAD FÍSICA
PELÍCULAS DELGADAS
Acceso en línea:https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145
Aporte de:
Repositorio Institucional de la UNSAM de Universidad Nacional de General San Martín
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spelling I78-R216-123456789-11452020-12-26T22:05:28Z Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas. Garraza, María Soledad Vega, Daniel FÍSICA NUCLEAR RADIACTIVIDAD RAYOS X PROPIEDAD FÍSICA PELÍCULAS DELGADAS Proyecto Final Integrador info:eu-repo/semantics/acceptedVersion La idea directriz de este trabajo ha sido adquirir experiencia en algunas técnicas de Rayos X que puedan ser de potencial interés y eventual proyección para las futura actividades a desarrollarse en el Laboratorio de Haces de Neutrones. Fil: Garraza, María Soledad. Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson 2018 info:eu-repo/semantics/bachelorThesis info:ar-repo/semantics/trabajo final de grado PFI IDB 2018 GMS https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145 spa info:eu-repo/semantics/openAccess http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar/ Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 2.5 Argentina (CC BY-NC-SA 2.5) application/pdf application/pdf Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson
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