Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld
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Autores principales: | Amore, S., Schvartz, M., Álvarez, R., Loiacono, N., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13 |
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Formato: | other |
Lenguaje: | Español |
Publicado: |
INTI
2017
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01c6.dir/doc.pdf |
Aporte de: |
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