Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld
Guardado en:
Autores principales: | , , , , , |
---|---|
Formato: | other |
Lenguaje: | Español |
Publicado: |
INTI
2017
|
Materias: | |
Acceso en línea: | http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01c6.dir/doc.pdf |
Aporte de: |
id |
I60-R166-HASH01c63e97006541da70ddc4c7 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
I60-R166-HASH01c63e97006541da70ddc4c72021-07-14 Amore, S. Schvartz, M. Álvarez, R. Loiacono, N. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR openAccess Difracción de rayos x Estructura cristalina INTI 2017 application/pdf spa TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13 other Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01c6.dir/doc.pdf |
institution |
Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) |
institution_str |
I-60 |
repository_str |
R-166 |
collection |
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) |
language |
Español |
orig_language_str_mv |
spa |
topic |
Difracción de rayos x Estructura cristalina |
spellingShingle |
Difracción de rayos x Estructura cristalina Amore, S. Schvartz, M. Álvarez, R. Loiacono, N. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13 Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld |
topic_facet |
Difracción de rayos x Estructura cristalina |
format |
other |
author |
Amore, S. Schvartz, M. Álvarez, R. Loiacono, N. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13 |
author_facet |
Amore, S. Schvartz, M. Álvarez, R. Loiacono, N. Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13 |
author_sort |
Amore, S. |
title |
Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld |
title_short |
Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld |
title_full |
Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld |
title_fullStr |
Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld |
title_full_unstemmed |
Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld |
title_sort |
cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld |
publisher |
INTI |
publishDate |
2017 |
url |
http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01c6.dir/doc.pdf |
work_keys_str_mv |
AT amores cuantificaciondecompuestoscristalinospordifraccionderayosxaplicandoelmetododerietveld AT schvartzm cuantificaciondecompuestoscristalinospordifraccionderayosxaplicandoelmetododerietveld AT alvarezr cuantificaciondecompuestoscristalinospordifraccionderayosxaplicandoelmetododerietveld AT loiaconon cuantificaciondecompuestoscristalinospordifraccionderayosxaplicandoelmetododerietveld AT institutonacionaldetecnologiaindustrialintiquimicabuenosairesar cuantificaciondecompuestoscristalinospordifraccionderayosxaplicandoelmetododerietveld AT tecnointiedicion2017jornadasabiertasdedesarrolloinnovacionytransferenciatecnologica13 cuantificaciondecompuestoscristalinospordifraccionderayosxaplicandoelmetododerietveld |
_version_ |
1771257718482403328 |