Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica

Fil: Balducci, Diego Mario Nicolás. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina.

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Balducci, Diego Mario Nicolás
Otros Autores: Budini, Nicolás
Formato: Tesis de maestría acceptedVersion SNRD
Lenguaje:Español
Publicado: 2021
Materias:
Silicio cristalino
Digital holographic microscopy
Thin film coating
Crystalline silicon
Microscopía holográfica digital
Recubrimiento de película delgada
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/11185/5798
Aporte de:
Biblioteca Virtual - Tesis (UNL) de Universidad Nacional del Litoral
id I26-R132-11185-5798
record_format dspace
institution Universidad Nacional del Litoral
institution_str I-26
repository_str R-132
collection Biblioteca Virtual - Tesis (UNL)
language Español
topic Silicio cristalino
Digital holographic microscopy
Thin film coating
Crystalline silicon
Microscopía holográfica digital
Recubrimiento de película delgada
spellingShingle Silicio cristalino
Digital holographic microscopy
Thin film coating
Crystalline silicon
Microscopía holográfica digital
Recubrimiento de película delgada
Balducci, Diego Mario Nicolás
Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica
topic_facet Silicio cristalino
Digital holographic microscopy
Thin film coating
Crystalline silicon
Microscopía holográfica digital
Recubrimiento de película delgada
description Fil: Balducci, Diego Mario Nicolás. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina.
author2 Budini, Nicolás
author_facet Budini, Nicolás
Balducci, Diego Mario Nicolás
format Tesis de maestría
Tesis de maestría
acceptedVersion
SNRD
author Balducci, Diego Mario Nicolás
author_sort Balducci, Diego Mario Nicolás
title Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica
title_short Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica
title_full Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica
title_fullStr Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica
title_full_unstemmed Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica
title_sort caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica
publishDate 2021
url https://hdl.handle.net/11185/5798
work_keys_str_mv AT balduccidiegomarionicolas caracterizacionopticadepeliculasdelgadasmedianteinterferometriaholografica
AT balduccidiegomarionicolas opticalcharacterizationofthinfilmsbyholographicinterferometry
bdutipo_str Repositorios
_version_ 1764820515218784257

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