Verificación de las Curvas de Paschen y la Ley de Peek en microionizadores por descarga luminiscente

En este trabajo analizamos el sistema de ionización por descarga luminiscente para su utilización como fuente de iones en un equipo de identificación de compuestos químicos tipo IMS. Se realizaron modelos de descarga corona implementados con tecnología MEMS (Sistemas Micro-electro Mecánicos). Se pro...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ortiz, J. J., Nigri, C., Lasorsa, C., Rodriguez, D., Perillo, P., Boggio, N., Ortiz, Guillermo P.
Formato:	Objeto de conferencia
Lenguaje:	Español
Publicado:	2011
Materias:	Ingeniería Generación de iones Movilidad Ionización Descarga glow
Acceso en línea:	http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/121955
Aporte de:	SEDICI (UNLP) de Universidad Nacional de La Plata

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description	En este trabajo analizamos el sistema de ionización por descarga luminiscente para su utilización como fuente de iones en un equipo de identificación de compuestos químicos tipo IMS. Se realizaron modelos de descarga corona implementados con tecnología MEMS (Sistemas Micro-electro Mecánicos). Se propone que en la escala micrométrica es posible mejorar rendimientos, confiabilidad y demandas operativas. Así se redujo la tensión de la fuente de alimentación a menos de 1kV.
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