Verificación de las Curvas de Paschen y la Ley de Peek en microionizadores por descarga luminiscente

por Ortiz, J. J., Nigri, C., Lasorsa, C., Rodriguez, D., Perillo, P., Boggio, N., Ortiz, Guillermo P.
Publicado 2011

Characterization of fabrication process of micropores on silicon substrate by electrochemical method

por Der, M., Olmos, C., Rosero, G., Santizo, I., Fernandez, T., Dieguez, M., Sacco, F., Granell, P., Golmar, F., Lerner, B., Lasorsa, C., Perez, M.