IRAM 15-2 - ISO 2859-2 : sistemas de muestreo para la inspección por atributos : parte 2 - planes de muestreo para las inspecciones de lotes aislados, tabulados según la calidad límite (LQ) = Sampling systems for inspection by attributes : part 2 - sampling plans indexed by limiting quality (LQ) for isolated lot inspection

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Instituto Argentino de Normalización y Certificación
Formato: Libro
Lenguaje:Español
Publicado: Buenos Aires : IRAM, 2010
Edición:2a ed.
Materias:
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
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300 |a 34 p. ;   |c 30 cm. 
504 |a Incluye bibliografía p. 33. 
505 0 |a 0. Introducción. -- 1. Objeto y campo de aplicación. -- 2. Definiciones. -- 3. Elección del plan de muestreo. -- 4. Reglas para la aceptación y rechazo. -- 5. Planes de muestreo doble y múltiple. -- 6. Ejemplos que ilustran el uso de esta norma. -- 7. Compatibilidad con la IRAM15-1/ISO 2859-1. 
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653 |a NORMAS DE CALIDAD  
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