Sistemas de muestreo para la inspección por atributos /

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Instituto Argentino de Normalización y Certificación
Formato: Libro
Lenguaje:Español
Inglés
Publicado: Buenos Aires : IRAM, 2009.
Materias:
Control de calidad.
Optimización
Muestreo.
Norma.
Normalización.
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
Biblioteca Central (UNSAM) de Universidad Nacional de General San Martín
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130 0 |a Norma argentina IRAM.  |9 95227 
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245 1 0 |a Sistemas de muestreo para la inspección por atributos /  |c [Instituto Argentino de Normalización y Certificación]. 
260 |a Buenos Aires :   |b IRAM,   |c 2009. 
300 |a 1 v. en 4 :  |b graf. ;  |c 30 cm. 
500 |a Traducido de: Sampling system for inspection by attributes.  
500 |a "Corresponde a la revisión parcial de la edición de diciembre de 1973, a la que esta parte de la segunda edición, junto con las partes 1 y 2 de esta norma, reemplaza". -- En tapa de la parte 0. 
500 |a "Corresponde a la revisión parcial de la edición de diciembre de 1973, a la que esta parte de la segunda edición, junto con las partes 0 y 2 de esta norma, reemplaza". -- En tapa de la parte 1. 
500 |a "Corresponde a la revisión parcial de la edición de diciembre de 1973, a la que esta parte de la segunda edición, junto con las partes 0 y 1 de esta norma, reemplaza". -- En tapa de la parte 2. 
500 |a Pte. 0, 2009 ; pte. 1-3, 2010. 
504 |a Incluye referencias bibliográficas. 
505 0 |a Referencia numérica: IRAM 15-0:2009. Parte 0. Introducción. 1. Objeto y campo de aplicación. -- 2. Documentos normativos para consulta. -- 3. Definiciones. -- 4. Introducción general al muestreo para la aceptación. -- 5. Sistema de la IRAM 15-1/ISO 2859-1. 
505 0 |a Referencia numérica: IRAM 15-1:2010 / ISO 2859-1:1999. Parte 1. Planes de muestreo para las inspecciones lote por lote tabulados según el nivel de calidad aceptable (AQL) (ISO 2859-1, IDT). 1. Objeto y campo de aplicación. -- 2. Documentos normativos para consulta. -- 3. Términos, definiciones y símbolos. -- 4. Expresión de la no conformidad. -- 5. Nivel de calidad aceptable (AQL). -- 6. Presentación del producto para muestreo. -- 7. Aceptación y rechazo. -- 8. Extracciones de las muestras. -- 9. Inspección normal, estricta o simplificada. -- 10. Planes de muestreo. -- 11. Determinación de la aceptabilidad. -- 12. Información suplementaria. -- 13. Planes con número de aceptación fraccionario para muestreo simple (opcional). 
505 0 |a Referencia numérica: IRAM 15-2:2010 / ISO 2859-1:1985. Parte 2. Planes de muestreo para las inspecciones de lotes aislados, tabulados según la calidad límite (LQ). 0. Introducción. -- 1. Objeto y campo de aplicación. -- 2. Definiciones. -- 3. Elección del plan de muestreo. -- 4. Reglas para la aceptación y rechazo. -- 5. Planes de muestreo doble y múltiple. -- 6. Ejemplos que ilustran el uso de esta norma. -- 7. Compatibilidad con la IRAM15-1/ISO 2859-1. 
505 0 |a Referencia numérica: IRAM 15-3:2010 / ISO 2859-3:2005. Parte 3. Sistemas de muestreo de lotes salteados. 1. Objeto y campo de aplicación. -- 2. Documentos normativos para consulta. -- 3. Términos, definiciones y símbolos. -- 4. Requisitos generales. -- 5. Calificación del proveedor y del producto. -- 6. Procedimientos para el muestreo de lotes salteados. -- 7. Responsabilidades del proveedor. -- 8. Organismo de inspección y responsabilidades de la autoridad responsable. -- 9. Compatibilidad con la IRAM 15-1/ISO 2859-1. -- 10. Información adicional. 
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