Evaluación de la calidad de TRAM en la detección de fallas de fabricación en circuitos integrados analógicos fabricados en tecnología CMOS de 500nm

por Pazos, Sebastián, Aguirre, Fernando, Mazur, Tomás, Peretti, Gabriela, Romero, Eduardo
Publicado 2021

Diseño de un amplificador operacional didáctico programable en un proceso CMOS de 500 nm

por Fontana, Andrés, Mazur, Tomás, Aguirre, Fernando, Pazos, Sebastián, Verrastro, Sebastián
Publicado 2021