Mostrando 1 - 1 Resultados de 1 Para Buscar '' Saltar al contenido
BDU3
  • Inicio
  • Su cuenta
  • Salir
  • Entrar
Avanzado
Restablecer filtros
Materias: filtro de segundo orden
Restablecer filtros
Mostrar filtros (1)
Materias: filtro de segundo orden
  • Resultados de búsqueda
Tipo de registro dentro de su búsqueda. Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Repositorios 1
Materias dentro de su búsqueda. Materias dentro de su búsqueda.
2nd order filters 1 analog ic testing 1 filtro de segundo orden método del análisis de la respuesta transitoria 1 testing de circuito integrados analógicos 1 transient response analysis method 1
Mostrando 1 - 1 Resultados de 1 Para Buscar '', tiempo de consulta: 0.09s Limitar resultados
  1. 1
    Evaluación de la calidad de TRAM en la detección de fallas de fabricación en circuitos integrados analógicos fabricados en tecnología CMOS de 500nm
    por Pazos, Sebastián, Aguirre, Fernando, Mazur, Tomás, Peretti, Gabriela, Romero, Eduardo
    Publicado 2021
    Aportado por: RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)
    Enlace del recurso
    Artículo publisherVersion
    Agregar a favoritos
    Guardado en:
Herramientas de búsqueda: RSS — Enviar por Correo electrónico esta Búsqueda — Guardar Búsqueda

Refine su búsqueda

Universidad Tecnológica Nacional 1
RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN) 1
Artículo 1 publisherVersion 1
Aguirre, Fernando 1 Mazur, Tomás 1 Pazos, Sebastián 1 Peretti, Gabriela 1 Romero, Eduardo 1
Español 1

Opciones de búsqueda

  • Historial de Búsqueda
  • Búsqueda Avanzada

Buscar Más

  • Revisar el Catálogo
  • Explorar canales
  • Tour (beta)

¿Necesita Ayuda?

  • Consejos de búsqueda
  • Preguntas Frecuentes
  • Contacte al adminstrador
Cargando...