Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Calibración
Metrología
19
Incertidumbre
9
Patrones
9
Sistema Interamericano de Metrología
8
Mediciones
7
Instrumentos de medición
5
Comparadores
4
Corriente eléctrica
4
Medidores
4
Análisis gravimétrico
3
Masa
3
Micotoxinas
3
Soluciones
3
Transformadores
3
Trazabilidad
3
Voltaje
3
Volumen
3
Ángulos
3
Aceleración
2
Contaminación de alimentos
2
Energía eléctrica
2
Errores
2
INTI
2
Industria láctea
2
Interferometría
2
Kilogramo
2
Mediciones volumétricas
2
Metrología química
2
Pesas
2
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21por Rodriguez, G., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017conferenceObject -
22por Goren, Ahmet C., Gokcen, Taner, Gunduz, Simay, Bilsel, Mine, Koch, Mathias, Kakoulides, Elias, Giannikopoulou, Panagiota, Tang Wai-tong, Gary, Chan, Andy, Kneeteman, Estela, Mugenya, Isaac, Murııra, Geoffrey, Boonyakong, Cheerapa, Fernandes-Whaley, Maria, Krylov, Anatoliy, Mikheeva, Alena
Publicado 2019article -
23por Becerra, L. O., Peña, L. M., Luján, L., Díaz, J. C., Centeno, , L. M., Loayza, V. M., Cacais, F. A., Ramos, O., Rodriguez, S., Garcia, F., Leyton, F., Santo, C., Caceres, J., Kornblit, F., Leiblich, J., Claude, J.
Publicado 2016article -
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25
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26por Viliesid, Miguel, Colín Castellanos, Carlos, Chávez, T., Chaudhary, K. P., Dvořáček, Frantisek, Stoup, John, Santos Barros, Wellington, Vaudagna, Leandro, Morales, Roberto, Acquarone, Alejandro, Carrasco, J., Vega, M., Salazar, M., Gil, V., Dimas, J., Reyes, E., Hamilton, F., Reddock, T., Durga, S., Burton, T.
Publicado 2015article -
27por Zapata, Alexis, Benevenia, Ramiro, Taibo, Lucía, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017conferenceObject -
28por Yasuda, Eliana, Di Lillo, Lucas, Kyriazis, Gregory A., Congresso Brasileiro de Metrologia, 8, Congresso Internacional de Metrologia Elétrica (SEMETRO), 11
Publicado 2015conferenceObject -
29conferenceObject
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30conferenceObject
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33
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34por Máriássy, Michal, Hioki, Akiharu, Konopelko, Leonid A., Dimchoglo, Irina, Winchester, Michael, Butler, Therese, Case, Ryan, Hernández, Ana, Galli, Ariel, Alvarez, Pablo, Lee, Joung Hae, Royer, Chantal, Shi, Naijie, Chao, Jingbo, Wu, Bing, Li, Haifeng, Turk, Gregory
Publicado 2008article -
35por Jesiotr, V., Fernandez, M., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017conferenceObject -
36por Brum Vieira, Luiz Henrique, Stone, Jack, Viliesid, Miguel, Gastaldi, Bruno R., Przybylska, Joanna, Chaudhary, K. P.
Publicado 2015article -
37por Kornblit, Fernando, Leiblich, Juan, Minutti, Gerardo, Barbagrigia, Javier, Simposio Metrología
Publicado 2010conferenceObject -
38por Tonina, A., Currás, M., Navarro González, M., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, National Institute of Standards and Tecgnology. NIST. Maryland, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11
Publicado 2013article -
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