Probabilidad de supervivencia en presencia de una trampa dinámica
La Probabilidad de Supervivencia (SP) es una magnitud de esencial importancia en numerosos fenómenos físicos y químicos. En particular, en el modelo de Glarum para la relajación dieléctrica, esta cantidad interviene en el cálculo de la constante dieléctrica dependiente de la frecuencia. En esta comu...
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| Autores principales: | , , |
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| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
1996
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| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v08_n01_p047 |
| Aporte de: |
| Sumario: | La Probabilidad de Supervivencia (SP) es una magnitud de esencial importancia en numerosos fenómenos físicos y químicos. En particular, en el modelo de Glarum para la relajación dieléctrica, esta cantidad interviene en el cálculo de la constante dieléctrica dependiente de la frecuencia. En esta comunicación se estudia la SP para una trampa dinámica en presencia de un conjunto de defectos móviles con concentración c. El proceso de difusión se realiza en una red unidimensional y la absorción de los defectos se produce cuando uno de los mismos se encuentra en la posición de la trampa y esta última está activada. La SP se calcula a partir de la Densidad de Probabilidad de Absorción (presentada en una comunicación anterior). En el modelo de Glarum esta absorción representa la relajación del dipolo eléctrico. Se muestra la SP para distintas dinámicas del proceso de activación-desactivación de la trampa y el correspondiente comportamiento asintótico para tiempos grandes y pequeños. |
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