Probabilidad de supervivencia en presencia de una trampa dinámica

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La Probabilidad de Supervivencia (SP) es una magnitud de esencial importancia en numerosos fenómenos físicos y químicos. En particular, en el modelo de Glarum para la relajación dieléctrica, esta cantidad interviene en el cálculo de la constante dieléctrica dependiente de la frecuencia. En esta comu...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Re, Miguel Angel, Budde, Carlos Esteban, Cáceres, Manuel Osvaldo
Lenguaje:Español
Publicado: 1996
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v08_n01_p047
Aporte de:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) de Universidad de Buenos Aires
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spelling todo:afa_v08_n01_p0472023-10-03T13:22:32Z Probabilidad de supervivencia en presencia de una trampa dinámica Re, Miguel Angel Budde, Carlos Esteban Cáceres, Manuel Osvaldo La Probabilidad de Supervivencia (SP) es una magnitud de esencial importancia en numerosos fenómenos físicos y químicos. En particular, en el modelo de Glarum para la relajación dieléctrica, esta cantidad interviene en el cálculo de la constante dieléctrica dependiente de la frecuencia. En esta comunicación se estudia la SP para una trampa dinámica en presencia de un conjunto de defectos móviles con concentración c. El proceso de difusión se realiza en una red unidimensional y la absorción de los defectos se produce cuando uno de los mismos se encuentra en la posición de la trampa y esta última está activada. La SP se calcula a partir de la Densidad de Probabilidad de Absorción (presentada en una comunicación anterior). En el modelo de Glarum esta absorción representa la relajación del dipolo eléctrico. Se muestra la SP para distintas dinámicas del proceso de activación-desactivación de la trampa y el correspondiente comportamiento asintótico para tiempos grandes y pequeños. The Survival Probability (SP) is a very important magnitude in a great number of physical and chemical phenomena. In the Glarum model for dielectric relaxation, the SP is involved in the calculation of the frequency dependent dielectric permitivity. In this communication the SP for a dynamic trap in the presence of a random distribution of noninteracting movil defects with initial concentration c is calculated. The difussion process is assumed on a one-dimensional lattice and the absorption of a deffect is produced when it reaches the trap position and the trap is activated. We calculate the SP from the Absorption Probability Density (presented in a previous communication). In the Glarum model the absorption represents the dipole relaxation. It is showed the SP for different dynamics in the activation-desactivation process and the corresponding asymptotic behaviour is determined for long and short times Fil: Re, Miguel Angel. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física (UNC-FaMAF). Córdoba. Argentina Fil: Budde, Carlos Esteban. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física (UNC-FaMAF). Córdoba. Argentina Fil: Cáceres, Manuel Osvaldo. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche. Instituto Balseiro (CNEA-CAB). Río Negro. Argentina 1996 PDF Español info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v08_n01_p047
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