Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia

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Se utilizó el microscopio de fuerza atómica para estudiar la topografía de superficies conductoras, semiconductoras y aislantes empleadas en experimentos de interacción de iones con la materia. Se comprobó que los ciclos de recocido alternados con bombardeo rasante de Arᶧ a 20 keV producen superfici...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Sánchez, Esteban Alejandro, Gómez, G. R., Gayone, Julio Esteban, Pregliasco, Rodolfo Guillermo, Grizzi, Oscar
Lenguaje:Español
Publicado: 1995
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v07_n01_p072
Aporte de:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) de Universidad de Buenos Aires
id todo:afa_v07_n01_p072
record_format dspace
spelling todo:afa_v07_n01_p0722023-10-03T13:22:11Z Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia Sánchez, Esteban Alejandro Gómez, G. R. Gayone, Julio Esteban Pregliasco, Rodolfo Guillermo Grizzi, Oscar Se utilizó el microscopio de fuerza atómica para estudiar la topografía de superficies conductoras, semiconductoras y aislantes empleadas en experimentos de interacción de iones con la materia. Se comprobó que los ciclos de recocido alternados con bombardeo rasante de Arᶧ a 20 keV producen superficies de GaAs(110) y Al(111) más planas que la técnica convencional de preparación de muestras monocristalinas. Se comparan estos resultados con mediciones de dispersión de iones y de emisión de electrones Convoy por incidencia rasante de protones. Se midió también la rugosidad de láminas delgadas (≈130 Å) autosoportadas de Au empleadas en experimentos de frenamiento de iones en sólidos. Finalmente se muestran imágenes de daño producido por impacto de CIᶧ a 49 MeV en superficies de mica. We have used the atomic force microscope to study the topography of conductor, semiconductor and insulator surfaces used in experiments of ion-beam interaction with solids. We state that cycles of grazing 20 keV Arᶧ bombardment and anneling produce GaAs(110) and Al(111) surfaces smoother than those prepared by standard methods. We compare these results with measurements of Ion Scattering Spectrometry and Convoy electron emission induced by grazing proton bombardment. We have also measured the roughness of self-suporting Au samples (≈130 Å thikness) used in stopping power experiments. Finally, we show images of ion damage produced by 49 MeV CIᶧ on mica surfaces. Fil: Sánchez, Esteban Alejandro. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche (CNEA-CAB). Río Negro. Argentina Fil: Gómez, G. R.. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche (CNEA-CAB). Río Negro. Argentina Fil: Gayone, Julio Esteban. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche (CNEA-CAB). Río Negro. Argentina Fil: Pregliasco, Rodolfo Guillermo. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche (CNEA-CAB). Río Negro. Argentina Fil: Grizzi, Oscar. Comisión Nacional de Energía Atómica. Centro Atómico Bariloche (CNEA-CAB). Río Negro. Argentina 1995 PDF Español info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v07_n01_p072
institution Universidad de Buenos Aires
institution_str I-28
repository_str R-134
collection Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
language Español
orig_language_str_mv Español
description Se utilizó el microscopio de fuerza atómica para estudiar la topografía de superficies conductoras, semiconductoras y aislantes empleadas en experimentos de interacción de iones con la materia. Se comprobó que los ciclos de recocido alternados con bombardeo rasante de Arᶧ a 20 keV producen superficies de GaAs(110) y Al(111) más planas que la técnica convencional de preparación de muestras monocristalinas. Se comparan estos resultados con mediciones de dispersión de iones y de emisión de electrones Convoy por incidencia rasante de protones. Se midió también la rugosidad de láminas delgadas (≈130 Å) autosoportadas de Au empleadas en experimentos de frenamiento de iones en sólidos. Finalmente se muestran imágenes de daño producido por impacto de CIᶧ a 49 MeV en superficies de mica.
author Sánchez, Esteban Alejandro
Gómez, G. R.
Gayone, Julio Esteban
Pregliasco, Rodolfo Guillermo
Grizzi, Oscar
spellingShingle Sánchez, Esteban Alejandro
Gómez, G. R.
Gayone, Julio Esteban
Pregliasco, Rodolfo Guillermo
Grizzi, Oscar
Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia
author_facet Sánchez, Esteban Alejandro
Gómez, G. R.
Gayone, Julio Esteban
Pregliasco, Rodolfo Guillermo
Grizzi, Oscar
author_sort Sánchez, Esteban Alejandro
title Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia
title_short Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia
title_full Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia
title_fullStr Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia
title_full_unstemmed Aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia
title_sort aplicaciones de la microscopía de fuerza atómica al estudio de superficies utilizadas en experimentos de interacción de iones con la materia
publishDate 1995
url https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v07_n01_p072
work_keys_str_mv AT sanchezestebanalejandro aplicacionesdelamicroscopiadefuerzaatomicaalestudiodesuperficiesutilizadasenexperimentosdeinteracciondeionesconlamateria
AT gomezgr aplicacionesdelamicroscopiadefuerzaatomicaalestudiodesuperficiesutilizadasenexperimentosdeinteracciondeionesconlamateria
AT gayonejulioesteban aplicacionesdelamicroscopiadefuerzaatomicaalestudiodesuperficiesutilizadasenexperimentosdeinteracciondeionesconlamateria
AT pregliascorodolfoguillermo aplicacionesdelamicroscopiadefuerzaatomicaalestudiodesuperficiesutilizadasenexperimentosdeinteracciondeionesconlamateria
AT grizzioscar aplicacionesdelamicroscopiadefuerzaatomicaalestudiodesuperficiesutilizadasenexperimentosdeinteracciondeionesconlamateria
_version_ 1807322259301335040

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