Interferometría de banda ancha para la medición de espesores

Mostrar todas las versiones(3)

En esta tesis se presenta el desarrollo de la técnica interferometría de banda ancha en oposición a la interferometría de luz blanca como un método para medir espesores de líquidos y láminas delgadas. Es posible ganar precisión en la medición reduciendo el ancho de banda de la fuente para evitar las...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Costantino, Santiago
Otros Autores: Martínez, Oscar Eduardo
Formato: Tesis doctoral publishedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales 2003
Materias:
INTERFEROMETRIA
BANDA ANCHA
ESPESORES
LUBRICANTES
TRIBOLOGIA
DISPERSION DE INDICE DE REFRACCION
INDICE DE GRUPO
TRES ONDAS
INTERFEROMETRY
WIDE BAND
THICKNESS MEASIREMENT
LUBRICANTS
TRIBOLOGY
REFRACTIVE INDEX DISPERSION
GROUP INDEX
THREE WAVE
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3572_Costantino
Aporte de:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) de Universidad de Buenos Aires
id tesis:tesis_n3572_Costantino
record_format dspace
spelling tesis:tesis_n3572_Costantino2023-10-02T19:50:23Z Interferometría de banda ancha para la medición de espesores Wide band interferomtry for thckness measurement Costantino, Santiago Martínez, Oscar Eduardo INTERFEROMETRIA BANDA ANCHA ESPESORES LUBRICANTES TRIBOLOGIA DISPERSION DE INDICE DE REFRACCION INDICE DE GRUPO TRES ONDAS INTERFEROMETRY WIDE BAND THICKNESS MEASIREMENT LUBRICANTS TRIBOLOGY REFRACTIVE INDEX DISPERSION GROUP INDEX THREE WAVE En esta tesis se presenta el desarrollo de la técnica interferometría de banda ancha en oposición a la interferometría de luz blanca como un método para medir espesores de líquidos y láminas delgadas. Es posible ganar precisión en la medición reduciendo el ancho de banda de la fuente para evitar las distorsiones causadas por la dispersión del material. A partir del análisis de este efecto se refiita el dogma establecido de que el mayor ancho de banda posible es el óptimo. Se demuestra que el conocimiento preciso de la dependencia del índice de refracción con la longitud de onda es imprescindible para una medición adecuada del espesor de un medio dispersivo. El dispositivo experimental presentado es, además, adecuado para obtener esta dependencia con suficiente resolución. En el marco del desarrollo de una técnica capaz de medir con eficiencia espesores de lubricantes, pinturas y barnices, se ilustran los alcances del sistema con la medición del espesor de aceite de siliconas sobre una superficie plana en tiempo real. Finalmente se propone una modificación al esquema experimental con el objetivo de reducir el espesor mínimo mensurable. Se presenta el desarrollo de la Interferometría de tres ondas como la solución para ampliar el rango dinámico de la interferometría de banda ancha. In this thesis a new technique called Wide Band interferometry is presented as opposed to White-light interferometry to introduce a thickness measurement method for thin films and liquids. It is possible to gain precision by reducing the bandwidth of the light source in order to avoid distortions arising from the material dispersion. The established dogma that the widest possible bandwidth is the optimum falls after the analysis of this effect. It is shown that the precise knowledge of the frequency dependence of the refractive index is essential for an adequate thickness retrieval in optical experiments. The experimental device that is presented is also useful to obtain this information with enough resolution. Regarding the development of a method that allows to efficiently measure the thickness of lubricants, paints and varnishes, an experiment that shows the spreading of a silicone oil on a plane surface in real time is shown. Finally, a modification to the experimental setup is proposed in order to reduce the minimum measurable thickness. Three Wave interferometry is presented as a solution to increase the dynamic range of Wide Band interferometry. Fil: Costantino, Santiago. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales 2003 info:eu-repo/semantics/doctoralThesis info:ar-repo/semantics/tesis doctoral info:eu-repo/semantics/publishedVersion application/pdf spa info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3572_Costantino
institution Universidad de Buenos Aires
institution_str I-28
repository_str R-134
collection Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
language Español
orig_language_str_mv spa
topic INTERFEROMETRIA
BANDA ANCHA
ESPESORES
LUBRICANTES
TRIBOLOGIA
DISPERSION DE INDICE DE REFRACCION
INDICE DE GRUPO
TRES ONDAS
INTERFEROMETRY
WIDE BAND
THICKNESS MEASIREMENT
LUBRICANTS
TRIBOLOGY
REFRACTIVE INDEX DISPERSION
GROUP INDEX
THREE WAVE
spellingShingle INTERFEROMETRIA
BANDA ANCHA
ESPESORES
LUBRICANTES
TRIBOLOGIA
DISPERSION DE INDICE DE REFRACCION
INDICE DE GRUPO
TRES ONDAS
INTERFEROMETRY
WIDE BAND
THICKNESS MEASIREMENT
LUBRICANTS
TRIBOLOGY
REFRACTIVE INDEX DISPERSION
GROUP INDEX
THREE WAVE
Costantino, Santiago
Interferometría de banda ancha para la medición de espesores
topic_facet INTERFEROMETRIA
BANDA ANCHA
ESPESORES
LUBRICANTES
TRIBOLOGIA
DISPERSION DE INDICE DE REFRACCION
INDICE DE GRUPO
TRES ONDAS
INTERFEROMETRY
WIDE BAND
THICKNESS MEASIREMENT
LUBRICANTS
TRIBOLOGY
REFRACTIVE INDEX DISPERSION
GROUP INDEX
THREE WAVE
description En esta tesis se presenta el desarrollo de la técnica interferometría de banda ancha en oposición a la interferometría de luz blanca como un método para medir espesores de líquidos y láminas delgadas. Es posible ganar precisión en la medición reduciendo el ancho de banda de la fuente para evitar las distorsiones causadas por la dispersión del material. A partir del análisis de este efecto se refiita el dogma establecido de que el mayor ancho de banda posible es el óptimo. Se demuestra que el conocimiento preciso de la dependencia del índice de refracción con la longitud de onda es imprescindible para una medición adecuada del espesor de un medio dispersivo. El dispositivo experimental presentado es, además, adecuado para obtener esta dependencia con suficiente resolución. En el marco del desarrollo de una técnica capaz de medir con eficiencia espesores de lubricantes, pinturas y barnices, se ilustran los alcances del sistema con la medición del espesor de aceite de siliconas sobre una superficie plana en tiempo real. Finalmente se propone una modificación al esquema experimental con el objetivo de reducir el espesor mínimo mensurable. Se presenta el desarrollo de la Interferometría de tres ondas como la solución para ampliar el rango dinámico de la interferometría de banda ancha.
author2 Martínez, Oscar Eduardo
author_facet Martínez, Oscar Eduardo
Costantino, Santiago
format Tesis doctoral
Tesis doctoral
publishedVersion
author Costantino, Santiago
author_sort Costantino, Santiago
title Interferometría de banda ancha para la medición de espesores
title_short Interferometría de banda ancha para la medición de espesores
title_full Interferometría de banda ancha para la medición de espesores
title_fullStr Interferometría de banda ancha para la medición de espesores
title_full_unstemmed Interferometría de banda ancha para la medición de espesores
title_sort interferometría de banda ancha para la medición de espesores
publisher Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
publishDate 2003
url https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3572_Costantino
work_keys_str_mv AT costantinosantiago interferometriadebandaanchaparalamediciondeespesores
AT costantinosantiago widebandinterferomtryforthcknessmeasurement
_version_ 1782022255727869952

Ejemplares similares