Películas delgadas de semiconductores en medios acuosos

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En este trabajo se determinan las propiedades electrónicas de películas delgadasde CdS en contacto con un electrolito acuoso, para lo cual se desarrolló la técnica de conductancia superficial in-situ y se demostró su aplicabilidad para el estudio de otraspelículas semiconductoras. Se desarrolló un m...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Alcober, Carlos Santiago
Otros Autores: Aldabe Bilmes, Sara Alfonsina
Formato: Tesis doctoral publishedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales 1999
Materias:
CONDUCTANCIA SUPERFICIAL
PELICULAS DELGADAS
INTERFAZ SEMICONDUCTOR/ELECTROLITO
CDS
SURFACE CONDUCTANCE
POLYCRISTALLINE SEMICONDUCTORS
SEMICONDUCTOR/ELECTROLYTE INTERFACE
THIN FILMS
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3170_Alcober
Aporte de:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) de Universidad de Buenos Aires
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spelling tesis:tesis_n3170_Alcober2025-03-31T21:14:55Z Películas delgadas de semiconductores en medios acuosos Alcober, Carlos Santiago Aldabe Bilmes, Sara Alfonsina CONDUCTANCIA SUPERFICIAL PELICULAS DELGADAS INTERFAZ SEMICONDUCTOR/ELECTROLITO CDS SURFACE CONDUCTANCE POLYCRISTALLINE SEMICONDUCTORS SEMICONDUCTOR/ELECTROLYTE INTERFACE THIN FILMS En este trabajo se determinan las propiedades electrónicas de películas delgadasde CdS en contacto con un electrolito acuoso, para lo cual se desarrolló la técnica de conductancia superficial in-situ y se demostró su aplicabilidad para el estudio de otraspelículas semiconductoras. Se desarrolló un modelo que describe la interfaz semiconductor policristalino /electrolito teniendo en cuenta explícitamente la presencia de barreras intergrano. Estemodelo describe la interfaz de las películas delgadas de CdS y fue aplicado para lainterpretación de los resultados experimentales. A partir de los datos de espectroscopía de impedancia electroquímica, transmitancia modulada y conductancia superficial, se determinó el potencial de bandaplana, la densidad de portadores libres, la altura de barreras intergranos y su dependencia con el potencial. In this work, the electronic properties of thin CdS films in contact whit anaqueous electrolyte are determined. For this purpose, in-situ surface conductance wasdeveloped and its usefulness shown for other thin semiconductor films. A microscopicmodel that takes explicitly into account intergrain barriers in the electronic properties of CdS films in contact with an electrolyte was developed, and used in the interpretation ofthe experimental results. Using electrochemical impedance spectroscopy, modulated transmittance andsurface conductance, the flat band potential, free electron density and intergrain barrierheights and its dependence on potential were determined. Fil: Alcober, Carlos Santiago. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales 1999 info:eu-repo/semantics/doctoralThesis info:ar-repo/semantics/tesis doctoral info:eu-repo/semantics/publishedVersion application/pdf spa info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3170_Alcober
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