Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ
La distribución espectral de la radiación X de alta energia emitida por un Plasma Focus tipo Mather (30 kV, 10.5μF) fue determinada mediante el método de absorción diferencial en muestras metálicas de materiales y espesores diferentes. En el desarrollo de las mediciones cuyos resultados se presentan...
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| Publicado: |
Asociación Física Argentina
2008
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afa:afa_v20_n01_p0962025-12-11T16:58:47Z Espectroscopía de la radiación X de alta energía emitida por un Plasma Focus de 4.7 kJ Hard X-ray spectroscopy of a 4.7 kJ Plasma Focus An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 2008;01(20):96-99 Onnis, Luciano Emanuel Raspa, Verónica Diana Di Lorenzo, Francisco Javier Knoblauch, Pablo Tomás PLASMA FOCUS RAYOS X DUROS ESPECTROSCOPIA PLASMA FOCUS HARD X-RAYS SPECTROSCOPY La distribución espectral de la radiación X de alta energia emitida por un Plasma Focus tipo Mather (30 kV, 10.5μF) fue determinada mediante el método de absorción diferencial en muestras metálicas de materiales y espesores diferentes. En el desarrollo de las mediciones cuyos resultados se presentan, el equipo fue operado empleando deuterio dosificado (en volumen) con 2.5 % de argón y 3.5 mbar de presión total. Se emplearon muestras de cobre, níquel, titanio y plata de espesores variables entre 0.1 y 10 mm, según el caso. La radiación X fue detectada mediante una película radiográfica comercial acoplada a un centellador del tipo Lanex (Gd₂O₂S:Tb). Los resultados indican la presencia de un pico dominante en la zona de los 85 keV y componentes espectrales relevantes que se extienden entre los 50 y 150 keV The spectrum of the hard x-rays emitted by a Mather-type Plasma Focus device (30 kV, 10.5μF) was determined by means of the differential absorption method, using metallic samples of different thicknesses and compositions. The device was operated in deuterium doped with argon (2.5 % by volume) and the total filling pressure was 3.5 mbar. Copper, nickel, titanium and silver samples were employed, with thicknesses between 0.1 and 10 mm. The X-ray radiation was detected using commercial radiographic film coupled with a Lanex (Gd₂O₂S:Tb) intensifying screen. The results show the presence of a dominant peak in around 85 keV and significant spectral components between 50 and 150 keV Fil: Onnis, Luciano Emanuel. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA-FCEyN). Departamento de Física. Buenos Aires. Argentina Fil: Raspa, Verónica Diana. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina Fil: Di Lorenzo, Francisco Javier. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina Fil: Knoblauch, Pablo Tomás. Universidad de Buenos Aires - CONICET. Instituto de Física del Plasma (INFIP). Buenos Aires. Argentina Asociación Física Argentina 2008 info:ar-repo/semantics/artículo info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion application/pdf spa info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v20_n01_p096 |
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