Sobre la validez del método de fotoconductividad modulada en el régimen de recombinación para el cálculo de densidad de estados de defecto en semiconductores

En este trabajo, se estudian los resultados de experimentos de modulación de fotocorriente en muestras semiconductoras amorfas y microcristalinas realizados en el régimen gobernado por recombinación. La influencia de la intensidad de luz empleada se analiza tanto experimentalmente como a través de s...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Dussan Cuenca, Anderson, Schmidt, Javier Alejandro, Arce, Roberto Delio, Koropecki, Roberto Román, Buitrago, Román Horacio
Formato: Artículo publishedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Asociación Física Argentina 2002
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v14_n01_p230
Aporte de:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) de Universidad de Buenos Aires
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