Determinación de la reflectancia espectral con un sistema monocromador-cámara CCD-esfera integradora
Se diseñó y calibró un sistema experimental para medir la reflectancia difusa de muestras de superficie lambertiana compuesto por una esfera integradora, un monocromador y una cámara CCD, como detector. Para analizar la bondad del sistema experimental desarrollado se midió un conjunto de muestras de...
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Asociación Física Argentina
1999
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Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v11_n01_p099 |
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afa:afa_v11_n01_p0992025-07-30T16:13:41Z Determinación de la reflectancia espectral con un sistema monocromador-cámara CCD-esfera integradora An. (Asoc. Fís. Argent., En línea) 1999;01(11):99-102 Chacoff, C. Colombo, Elisa Margarita Se diseñó y calibró un sistema experimental para medir la reflectancia difusa de muestras de superficie lambertiana compuesto por una esfera integradora, un monocromador y una cámara CCD, como detector. Para analizar la bondad del sistema experimental desarrollado se midió un conjunto de muestras de alta y baja reflectancia. En el caso de mediciones de muestras de alta reflectancia los valores medidos de reflectancia espectral se determinaron con un error del 5% y, dentro de los errores experimentales, están en buen acuerdo con los valores de comparación obtenidos con otro instrumento más preciso. Las mediciones de reflectancia en muestras de baja reflectancia conducen a curvas que reproducen la forma de las curvas de comparación aunque los valores que se obtienen se apartan en el orden del 15% de las mismas We designed and calibrated an experimental system for measuring the diffuse reflectance of lambertian samples using an integrating sphere, a monochrome and a CCD camera, as detector. To analyse the performance of this system we measured the diffuse reflectance of samples of high and low reflec- tance. In the case of samples of high reflectance, the values of diffuse reflectance are determined with an error of 5% and, considering experimental errors, they are in agreement with the comparison values obtained with another system of higher accuracy. The measurements of reflectance for samples of low reflectance give curves that repro- duce the form of the comparison curves, though the values obtained are about 15% apart from those of comparison Fil: Chacoff, C.. Universidad Nacional de Tucumán - CONICET. Instituto de Investigación en Luz, Ambiente y Visión (ILAV). Tucumán. Argentina Fil: Colombo, Elisa Margarita. Universidad Nacional de Tucumán - CONICET. Instituto de Investigación en Luz, Ambiente y Visión (ILAV). Tucumán. Argentina Asociación Física Argentina 1999 info:ar-repo/semantics/artículo info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion application/pdf spa info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v11_n01_p099 |
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