Desempeño del método de análisis transitorio en la detección de fallas paramétricas en circuitos integrados.

En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Metodología de Análisis de Respuesta Transitoria (TRAM1 ) para discriminar entre circuitos dentro y fuera de especificaciones. Con este propósito se adopta una vista a nivel comportamiento, definiendo una falla como un...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Aguirre, Fernando, Pazos, Sebastián, Romero, Eduardo, Peretti, Gabriela, Verrastro, Sebastián
Formato:	Artículo publisherVersion
Lenguaje:	Español
Publicado:	2021
Materias:	circuitos integrados analógicos detección de fallas tram respuesta transitoria cmos analog integrated circuits fault detection transient response
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/20.500.12272/5473
Aporte de:	RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN) de Universidad Tecnológica Nacional

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description	En este trabajo se evalúa la capacidad de la estrategia de test denominada Metodología de Análisis de Respuesta Transitoria (TRAM1 ) para discriminar entre circuitos dentro y fuera de especificaciones. Con este propósito se adopta una vista a nivel comportamiento, definiendo una falla como un incumplimiento de alguna de las especificaciones. Si bien esta estrategia de test ha sido estudiada por varios autores, este trabajo se enfoca en la utilización de modelos de simulación más precisos que evitan hacer suposiciones de comportamientos ideales. Para las evaluaciones se ha adoptado un filtro de segundo orden en la topología de variables de es- tados, el cual ha sido diseñado totalmente a medida (full custom) en una tecnología comercial CMOS de 500 nm. Se adopta una metodología de evaluación que inyecta desviaciones alea- torias en los parámetros circuitales como un medio para generar una población de circuitos con diferentes proporciones de buenos y malos. Esta población se expone posteriormente al test para evaluar su eficiencia.
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author	Aguirre, Fernando Pazos, Sebastián Romero, Eduardo Peretti, Gabriela Verrastro, Sebastián
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Desempeño del método de análisis transitorio en la detección de fallas paramétricas en circuitos integrados.

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