Caracterización de recubrimientos obtenidos a partir de film líquidos por interferometría de baja coherencia.
En este trabajo se presenta la interferometría de baja coherencia como una técnica sin contacto para caracterizar recubrimientos obtenidos a partir de un film líquido depositado sobre distintos materiales. Nos referimos específicamente a recubrimientos poliméricos, barnices, pinturas y lacas entre o...
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| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2020
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/20.500.12272/4268 |
| Aporte de: |
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I68-R174-20.500.12272-4268 |
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Universidad Tecnológica Nacional |
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RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN) |
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interferometría poliméricos barnices lacas pinturas infrarrojo lejano polimerización o cambios estructurales topografía Sallese, Marcelo Morel, Eneas Lunaa, Georgina Tabla, Pablo Torga, Jorge Caracterización de recubrimientos obtenidos a partir de film líquidos por interferometría de baja coherencia. |
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En este trabajo se presenta la interferometría de baja coherencia como una técnica sin contacto para caracterizar recubrimientos obtenidos a partir de un film líquido depositado sobre distintos materiales. Nos referimos específicamente a recubrimientos poliméricos, barnices, pinturas y lacas entre otros, con la única condición de que sean transparentes o semitransparentes en la región del espectro electromagnético en el rango entre el visible y el infrarrojo lejano (400nm a 2000nm). La técnica permite la medición de espesor y homogeneidad del recubrimiento, o sea que puede ser utilizado como técnica de monitoreo del producto final o para estudio de su evolución temporal en el proceso de formación del film, por ejemplo en procesos de secado, polimerización o cambios estructurales. Se presenta una configuración experimental modular que puede ser adaptado a aplicaciones industriales, monitoreo en línea o sistemas de control de calidad. Se presentan mediciones en una muestra en base acuosa depositada sobre metal. Se muestran resultados en la medición de espesores, topografía de superficie y tomografía del material |
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Sallese, Marcelo Morel, Eneas Lunaa, Georgina Tabla, Pablo Torga, Jorge |
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