Determinación del llenado capilar en silicio poroso mediante interferometría de baja coherencia
La determinación de la dinámica de llenado capilar en estructuras nanoporosas y, en particular, del perfil de la fracción de llenado en el frente de mojado se ha propuesto como un posible método de caracterización de la distribución de poros de la estructura [1]. Así mismo, la dinámica de llenado...
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| Autores principales: | , , , , , |
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| Formato: | Documento de conferencia publishedVersion |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2020
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/20.500.12272/4267 |
| Aporte de: |
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I68-R174-20.500.12272-4267 |
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Universidad Tecnológica Nacional |
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I-68 |
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R-174 |
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RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN) |
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Español |
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Estructuras nanoporosas silicio nanoestructurado interferometría óptico capilar espectrómetro Sallese, Marcelo Morel, Eneas Cencha, Luisa Budini, Nicolás Urteaga, Raúl Torga, Jorge Determinación del llenado capilar en silicio poroso mediante interferometría de baja coherencia |
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Estructuras nanoporosas silicio nanoestructurado interferometría óptico capilar espectrómetro |
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La determinación de la dinámica de llenado capilar en estructuras nanoporosas y, en particular,
del perfil de la fracción de llenado en el frente de mojado se ha propuesto como un posible método de caracterización de la distribución de poros de la estructura [1]. Así mismo, la
dinámica de llenado en estructuras nanoporosas de morfología conocida permite realizar el
estudio de propiedades de fluidos en condiciones de gran confinamiento espacial [2]. En este
trabajo se propone determinar la dinámica de llenado capilar en estructuras de silicio poroso
nanoestructurado mediante la técnica de interferometría de baja coherencia. El ingreso de un
líquido dentro de la estructura porosa produce un incremento en el espesor óptico de la capa. La
determinación del espesor óptico en función de la posición y del tiempo permite monitorear la
dinámica de llenado capilar. El sistema empleado es un interferómetro de una sola rama que
utiliza como fuente de luz un láser de gran ancho espectral (~100 nm, centrado en 800 nm), un
sistema de fibra óptica y un espectrómetro como sistema de detección. La señal de interferencia
se genera por la superposición de las reflexiones en las distintas interfaces de la muestra con una reflexión de referencia (Fig. 1a). A partir del análisis de esta señal es posible medir camino
óptico recorrido por el haz al atravesar la muestra. Se determinó el llenado capilar de una
muestra de silicio poroso de 30 micrones de espesor y 80% de porosidad utilizando alcohol
etílico. La muestra fue sellada en su parte superior con un film de etil-vinil-acetato (EVA)
mediante calentamiento controlado del termoplástico (Fig. 1b). Los resultados indican que la
dinámica de llenado sigue un comportamiento tipo Washburn (����� ∝ ���������������
) y se evidencia un
ensanchamiento pronunciado del frente de avance (Fig. 1c) que se corresponde con la morfología
de la estructura porosa. |
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Sallese, Marcelo Morel, Eneas Cencha, Luisa Budini, Nicolás Urteaga, Raúl Torga, Jorge |
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