Fil: Chiu, K. C. R. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Chiu, K. C. R., Meckbach, W., Sánchez Sarmiento, G., Mc Gowan, J. W.
Formato: ARTÍCULO CIENTÍFICO Versión publicada
Lenguaje:Inglés
Publicado: IOP Publishing 1979
Materias:
The influence of experimental resolution and bakground upon ion-induced (ve = vi) electron distribution measured behind solid foils.
DISTRIBUTION CONSTANTS
IONS
CHARGE DISTRIBUTION
ION BEAMS
ATOMIC BEAMS
Acceso en línea:https://www.cnea.gob.ar/nuclea/handle/10665/1988
Aporte de:
Nuclea - Repositorio Institucional de la Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA) de Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA)
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spelling I64-R170-10665-19882022-10-20T11:47:23Z The influence of experimental resolution and bakground upon ion-induced (ve = vi) electron distribution measured behind solid foils. Chiu, K. C. R. Meckbach, W. Sánchez Sarmiento, G. Mc Gowan, J. W. DISTRIBUTION CONSTANTS IONS CHARGE DISTRIBUTION ION BEAMS ATOMIC BEAMS Fil: Chiu, K. C. R. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina Meckbach, W. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina Sánchez Sarmiento, G. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina Mc Gowan, J. W. Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina Comisión Nacional de Energía Atómica; Argentina IOP Publishing 1979 ARTÍCULO CIENTÍFICO Versión publicada application/pdf https://www.cnea.gob.ar/nuclea/handle/10665/1988 eng Journal of Physics B: Atomic, Molecular, and Optical Physics V.12 (5) 1979
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