Estimación del error producido por campos electromagnéticos conducidos y radiados en CIïs , embebidos

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: García, L., Lupi, D., Gatti, E., Hernández, F., Vargas, F., INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR, INTI- URSEC. Montevideo, UY, INTI- PUCRS, BR, Jornadas de desarrollo e innovación, 5, Investigación aplicada, electrónica autogenerado
Formato: conferenceObject
Lenguaje:Español
Publicado: INTI 2004
Materias:
Errores
Campo electromagnético
Método experimental
Circuitos integrados
Sistemas embebidos
Potencia
Microprocesadores
Acoplamiento
Almacenamiento
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01dd/1691ec27.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de INTI
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