In situ electrical characterization of palladium-based single electron transistors made by electromigration technique

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Arzubiaga, L., Golmar, F., Llopis, R., Casanova, F., Hueso, L. E.
Formato: article
Lenguaje:Inglés
Publicado: AIP Publishing 2014
Materias:
Electricidad
Electrones
Transistores
Paladio
Electrodos
Aleaciones de níquel
Electrostática
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01cf/75392c65.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de INTI
Descripción
Descripción no disponible.

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