Amore, S., Schvartz, M., Álvarez, R., Loiacono, N., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, A., & TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, I. y. T. T. (2017). Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld. INTI.
Cita Chicago Style (17a ed.)Amore, S., M. Schvartz, R. Álvarez, N. Loiacono, AR Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, y Innovación y Transferencia Tecnológica TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo. Cuantificación De Compuestos Cristalinos Por Difracción De Rayos X Aplicando El Método De Rietveld. INTI, 2017.
Cita MLA (8a ed.)Amore, S., et al. Cuantificación De Compuestos Cristalinos Por Difracción De Rayos X Aplicando El Método De Rietveld. INTI, 2017.