Cuantificación de compuestos cristalinos por difracción de rayos x aplicando el método de rietveld

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Amore, S., Schvartz, M., Álvarez, R., Loiacono, N., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Formato: other
Lenguaje:Español
Publicado: INTI 2017
Materias:
Difracción de rayos x
Estructura cristalina
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01c6.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de INTI
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