id I60-R166-HASH8b46faa9b08bb3ad913b34
record_format dspace
spelling I60-R166-HASH8b46faa9b08bb3ad913b342021-07-14 Jones, George R. Lipe, Thomas Landim, Regis Di Lillo, Lucas openAccess Sistema Interamericano de Metrología Metrología Calibración Patrones Ángulos Medidores Mediciones Instrumentos de medición IEEE 2013 application/pdf eng article Guest editorial http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH8b46.dir/doc.pdf
institution Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
institution_str I-60
repository_str R-166
collection Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
language Inglés
orig_language_str_mv eng
topic Sistema Interamericano de Metrología
Metrología
Calibración
Patrones
Ángulos
Medidores
Mediciones
Instrumentos de medición
spellingShingle Sistema Interamericano de Metrología
Metrología
Calibración
Patrones
Ángulos
Medidores
Mediciones
Instrumentos de medición
Jones, George R.
Lipe, Thomas
Landim, Regis
Di Lillo, Lucas
Guest editorial
topic_facet Sistema Interamericano de Metrología
Metrología
Calibración
Patrones
Ángulos
Medidores
Mediciones
Instrumentos de medición
format article
author Jones, George R.
Lipe, Thomas
Landim, Regis
Di Lillo, Lucas
author_facet Jones, George R.
Lipe, Thomas
Landim, Regis
Di Lillo, Lucas
author_sort Jones, George R.
title Guest editorial
title_short Guest editorial
title_full Guest editorial
title_fullStr Guest editorial
title_full_unstemmed Guest editorial
title_sort guest editorial
publisher IEEE
publishDate 2013
url http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH8b46.dir/doc.pdf
work_keys_str_mv AT jonesgeorger guesteditorial
AT lipethomas guesteditorial
AT landimregis guesteditorial
AT dilillolucas guesteditorial
_version_ 1771257736506376192