Arqueometría : técnicas de rayos X aplicadas al análisis químico en patrimonio cultural

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Álvarez, R., Ugarteche, S., Amore, S., Loiacono, N., Schvartz, M., Spina, J., Álvarez, D., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Formato: conferenceObject
Lenguaje:Español
Publicado: INTI 2017
Materias:
Rayos X
Análisis químico
Patrimonio
Bienes culturales
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH01f1/402ab529.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
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