Nanometric displacements measurement in piezoelectric polymers using bivariate empirical mode decomposition method in speckle patterns

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In this work we present an optical method for the direct determination of the piezoelectric coefficient of polymeric thin films. This is achieved through the measurement of nanometric mechanical displacements generated in the film when it is excited by low frequency harmonic electrical signals (0.5...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Etchepareborda, Pablo, Veiras, Francisco, Bianchetti, Arturo, Federico, Alejandro, Gonzalez, Martin German
Formato: Artículo publishedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: FIUBA 2019
Materias:
speckle
bivariate empirical mode descomposition
piezoelectric polymer
descomposición de modos empíricos bivariados
polímero piezoeléctrico
Acceso en línea:https://elektron.fi.uba.ar/elektron/article/view/76
https://repositoriouba.sisbi.uba.ar/gsdl/cgi-bin/library.cgi?a=d&c=elektron&d=76_oai
Aporte de:
Repositorio Digital de la Universidad de Buenos Aires (UBA) de Universidad de Buenos Aires

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