Microscopio fototérmico portátil para la caracterización no destructiva in situ de superficies

Grado obtenido: Ingeniero Electrónico

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Jan, Luis Emiliano
Otros Autores: Zaldivar Escola, Facundo
Formato: Tesis de grado tesis de grado
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería 2018
Materias:
INGENIERIA ELECTRONICA
MICROSCOPIOS
FIBRAS OPTICAS
ENSAYO NO DESTRUCTIVO
MEDICION
METALES
FOTOTERMICO
Acceso en línea:http://bibliotecadigital.fi.uba.ar/items/show/18227
http://bibliotecadigital.fi.uba.ar/files/original/61ea18ef81997beee0a8e43784782463.pdf
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Aporte de:
Repositorio Digital de la Universidad de Buenos Aires (UBA) de Universidad de Buenos Aires
id I28-R145-18227_oai
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spelling I28-R145-18227_oai2020-08-14 Zaldivar Escola, Facundo Mingolo, Nélida Jan, Luis Emiliano 2018 Grado obtenido: Ingeniero Electrónico Disciplina: Ingeniería Electrónica Fil: Jan, Luis Emiliano. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería Nota: Sobresaliente 10 http://bibliotecadigital.fi.uba.ar/items/show/18227 http://bibliotecadigital.fi.uba.ar/files/original/61ea18ef81997beee0a8e43784782463.pdf spa Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería info:eu-repo/semantics/openAccess INGENIERIA ELECTRONICA MICROSCOPIOS FIBRAS OPTICAS ENSAYO NO DESTRUCTIVO MEDICION METALES FOTOTERMICO Microscopio fototérmico portátil para la caracterización no destructiva in situ de superficies info:eu-repo/semantics/bachelorThesis info:ar-repo/semantics/tesis de grado tesis de grado http://repositoriouba.sisbi.uba.ar/gsdl/cgi-bin/library.cgi?a=d&c=aiggtesis&d=18227_oai
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