Transformación martensítica y efecto memoria en materiales micro y nanoestructurados
En este trabajo se estudió las propiedades de memoria de forma y la microestructura de películas de Cu-Al-Ni. El estudio se realizó principalmente empleando microscopía electrónica de transmisión (TEM), aprovechando las técnicas de difracción, microscopía electrónica de alta resolución (HRTEM) y...
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Formato: | Tesis NonPeerReviewed |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2007
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://ricabib.cab.cnea.gov.ar/264/1/1Espinoza_Torres.pdf |
| Aporte de: |
| Sumario: | En este trabajo se estudió las propiedades de memoria de forma y la microestructura de
películas de Cu-Al-Ni. El estudio se realizó principalmente empleando microscopía
electrónica de transmisión (TEM), aprovechando las técnicas de difracción, microscopía
electrónica de alta resolución (HRTEM) y microanálisis a través de espectroscopía
dispersiva en energía (EDS).
La fabricación de las películas se realizó a partir de aleaciones Cu-Al-Ni cuya
composición de fabricación y posterior tratamiento térmico correspondía a la formación
de la martensita 18R con temperatura de transformación cercana a temperatura ambiente.
Se evaluó el efecto memoria de forma en las películas, crecidas por sputtering, luego de
ser sometidas a diferentes tratamientos térmicos, encontrándose resultados muy variables
inclusive dentro de la misma película.
Se determinó la microestructura presente en las películas antes y después del tratamiento
térmico, observándose un crecimiento de grano de 300nm aproximadamente luego del
tratamiento térmico, y se identificó la coexistencia de la martensita 2H y 18R. Las fases
beta (matriz) y gama también fueron identificadas.
Se observó una orientación preferencial de los granos, planos {110} de fase beta paralelos
a la superficie, originada de los planos compactos de la estructura hexagonal presente en
las películas crecidas por sputtering. Se confirmó el texturado mediante difracción de
rayos X en películas con y sin tratamiento térmico.
Se calibró el sistema EDS del TEM para cuantificar la composición, mediante la técnica
de Cliff-Lorimer, determinándose las constantes propias para el equipo y las muestras en
estudio.
Se determinó la composición en las películas sin tratamiento térmico encontrándose
diferencias de un 1wt%Al para zonas distintas en una misma película. Esta diferencia
afecta significativamente la temperatura de transformación y las características del efecto
memoria.
Se plantean hipótesis sobre el origen de las inhomogeneidades en la composición de las
películas y sugerencias para mejorar este aspecto. |
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