Diseño y metodologías de validación en sistemas microeléctrónicos tolerantes a fallas inducidas por radiación
El presente trabajo de investigación aborda la problemática del daño por radiación en disposi- tivos, ciruitos y sistemas microelectrónicos, situación que se presenta habitualmente cuando los mismos son utilizados en aplicaciones espaciales o nucleares. Durante el desarrollo de la tesis se propon...
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | tesis doctoral |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2014
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://repositoriodigital.uns.edu.ar/handle/123456789/452 |
| Aporte de: |
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I20-R126123456789-452 |
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Universidad Nacional del Sur |
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Repositorio Institucional Universidad Nacional del Sur (UNS) |
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Español |
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Ingeniería Microelectrónica Endurecimiento contra radiación Biblioteca de celdas estándar Microhaz Iones pesados ASIC |
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Ingeniería Microelectrónica Endurecimiento contra radiación Biblioteca de celdas estándar Microhaz Iones pesados ASIC Sondón, Santiago M. Diseño y metodologías de validación en sistemas microeléctrónicos tolerantes a fallas inducidas por radiación |
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Ingeniería Microelectrónica Endurecimiento contra radiación Biblioteca de celdas estándar Microhaz Iones pesados ASIC |
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El presente trabajo de investigación aborda la problemática del daño por radiación en disposi-
tivos, ciruitos y sistemas microelectrónicos, situación que se presenta habitualmente
cuando los mismos son utilizados en aplicaciones espaciales o nucleares. Durante el desarrollo de la tesis se
propone una metodología integrada por diferentes técnicas de diseño que permiten incrementar
la tolerancia a este tipo de fallas en los sistemas. Asimismo, se detallan los ensayos de radiación
realizados para validar la metodología y las contribuciones aportadas en dichos procedimientos.
El material presentado se articula en dos partes, dividiéndose el mismo en función del tipo de
fenómeno con el que se pueden asociar los distintos tipos de fallas inducidas por radiación. En la
primera parte se presenta el problema de daño acumulativo, mientras que en la segunda se trata
el problema de errores producidos por fallas transitorias. En ambas partes se introduce primero
la problemática, para luego pasar a detallar lo realizado paracombatir sus efectos y finalmente describir los procedimientos de validación experimental. Temas como tecnología CMOS, entorno
de radiación espacial y metodología de seleción de partes para misiones espaciales han sido incor-
porados en apéndices, a modo de referencia. La validez de la metodología propuesta se encuentra
respaldada con la fabricaión de más de seis ciruitos integrados, donde las implementaciones
físicas de los diseños fueron realizadas en diversas tecnologías modernas utilizando las técnicas
propuestas. Los resultados experimentales fueron obtenidos durante la realización de diversos
ensayos de irradiación en aceleradores de partículas con iones pesados y protones de alta energía. |
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Mandolesi, Pablo Sergio |
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Mandolesi, Pablo Sergio Sondón, Santiago M. |
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tesis doctoral |
| author |
Sondón, Santiago M. |
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Sondón, Santiago M. |
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