Influencia de la difusión de aluminio y fósforo sobre la vida media de portadores minoritarios en obleas de silicio cristalino

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Los procesos de difusión de dopantes utilizados en la elaboración de dispositivos fotovoltaicos de Si cristalino pueden promover mecanismos de atrapamiento de impurezas. Entre las técnicas habituales se destacan la difusión de P, como dopante tipo <i>n</i>, a partir de fuente líquida de...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Martínez Bogado, Mónica Gladys, Tamasi, Mariana Julia Luisa, Plá, Juan Carlos, Bolzi, Claudio Gustavo, Durán, Julio César
Formato:	Articulo
Lenguaje:	Español
Publicado:	2000
Materias:	Ingeniería Ciencias Exactas Física Celdas Solares alta eficiencia gettering OCVD vida media de portadores minoritarios Silicio
Acceso en línea:	http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/79144
Aporte de:	SEDICI (UNLP) de Universidad Nacional de La Plata

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description	Los procesos de difusión de dopantes utilizados en la elaboración de dispositivos fotovoltaicos de Si cristalino pueden promover mecanismos de atrapamiento de impurezas. Entre las técnicas habituales se destacan la difusión de P, como dopante tipo <i>n</i>, a partir de fuente líquida de POCl<SUB>3</SUB>, y de Al como dopante tipo <i>p</i>. A fin de estudiar la captura de impurezas asociada a estas técnicas, se realizaron difusiones simultáneas de P y Al, y de P solamente, para obtener estructuras <i>n<SUP>+</SUP>pp<SUP>+</SUP></i> y <i>n<SUP>+</SUP>p</i>, respectivamente. Empleando una variante del método de decaimiento de la tensión a circuito abierto (OCVD), se midió la vida media efectiva de los portadores minoritarios en diferentes etapas del proceso para evaluar el mecanismo de atrapamiento y sus consecuencias sobre las características eléctricas de las celdas solares. Se presentan asimismo simulaciones teóricas relacionadas con la influencia de la recombinación superficial en la cara posterior sobre la vida media efectiva.
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Influencia de la difusión de aluminio y fósforo sobre la vida media de portadores minoritarios en obleas de silicio cristalino

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