Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII

El presente trabajo, motivado por mejorar y ampliar el conocimiento existente, está relacionado con el estudio espectral en xenón, particularmente sobre el análisis de transiciones entre configuraciones en los iones cinco veces ionizado (XeVI) y siete veces ionizado ( XeVIII), proporciona informació...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Sarmiento Mercado, Rafael Ricardo
Otros Autores:	Gallardo, Mario O.
Formato:	Tesis Tesis de doctorado
Lenguaje:	Español
Publicado:	1999
Materias:	Ciencias Exactas Física Xenón Análisis Espectral Iones
Acceso en línea:	http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2476 https://doi.org/10.35537/10915/2476
Aporte de:	SEDICI (UNLP) de Universidad Nacional de La Plata

id	I19-R120-10915-2476
record_format	dspace
institution	Universidad Nacional de La Plata
institution_str	I-19
repository_str	R-120
collection	SEDICI (UNLP)
language	Español
topic	Ciencias Exactas Física Xenón Análisis Espectral Iones
spellingShingle	Ciencias Exactas Física Xenón Análisis Espectral Iones Sarmiento Mercado, Rafael Ricardo Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
topic_facet	Ciencias Exactas Física Xenón Análisis Espectral Iones
description	El presente trabajo, motivado por mejorar y ampliar el conocimiento existente, está relacionado con el estudio espectral en xenón, particularmente sobre el análisis de transiciones entre configuraciones en los iones cinco veces ionizado (XeVI) y siete veces ionizado ( XeVIII), proporciona información estructural de sus niveles de energía y otros parámetros energéticos, potencial de ionización y parámetros de polarizabilidades del carozo “core” iónico. El interés de suministrar datos espectroscópicos se debe a sus importantes aplicaciones en física del láser, física de plasmas y física de altas temperaturas. Por ejemplo, el estudio de líneas de intercombinación resulta de gran utilidad en el diagnóstico de plasmas confinados y astrofísicos. <i>(Párrafo extraído del texto a modo de resumen)</i>
author2	Gallardo, Mario O.
author_facet	Gallardo, Mario O. Sarmiento Mercado, Rafael Ricardo
format	Tesis Tesis de doctorado
author	Sarmiento Mercado, Rafael Ricardo
author_sort	Sarmiento Mercado, Rafael Ricardo
title	Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
title_short	Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
title_full	Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
title_fullStr	Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
title_full_unstemmed	Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
title_sort	espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del xevi y xevii
publishDate	1999
url	http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2476 https://doi.org/10.35537/10915/2476
work_keys_str_mv	AT sarmientomercadorafaelricardo espectroscopiaopticadelxenonmultiplementeionizadopordescargaspulsadasanalisisespectraldelxeviyxevii
bdutipo_str	Repositorios
_version_	1764820466285936642

Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII

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