Sobre el óxido intermedio del sistema Sn-O

En este trabajo de tesis se emplearon distintas técnicas con el propósito de establecer las condiciones en que tiene lugar la descomposición térmica del SnO y las fases presentes, y estudiar el óxido intermedio producto de la misma y sus propiedades físicas. Para ello se combinó difracción de rayos...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Moreno, Mario Sergio Jesús
Otros Autores: Bibiloni, Aníbal Guillermo
Formato: Tesis Tesis de doctorado
Lenguaje:Español
Publicado: 1992
Materias:
Ciencias Exactas
Física
SnO
Descomposición térmica
Òxido intermedio
Acceso en línea:http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2417
Aporte de:
SEDICI (UNLP) de Universidad Nacional de La Plata
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description En este trabajo de tesis se emplearon distintas técnicas con el propósito de establecer las condiciones en que tiene lugar la descomposición térmica del SnO y las fases presentes, y estudiar el óxido intermedio producto de la misma y sus propiedades físicas. Para ello se combinó difracción de rayos X, EXAFS y microscopía electrónica de barrido con objeto de lograr información acerca del óxido intermedio en relación a aspectos como su estructura y eventuales cambios de sus parámetros de red por variaciones en la estequiometría. Se empleó una técnica hiperfina, espectroscopia Móssbauer, para estudiar sus propiedades electrónicas y vibracionales. Se utilizaron cálculos teóricos de energías de red cono forma independiente de comprensión de la reacción de descomposición. Los resultados indican que la descomposición del SnO ya ocurre lentamente a 573 K, que ocurre en cualquier atmósfera, que siempre entre sus productos se encuentra SnO2, β-Sn y un óxido intermedio de composición Sn2O3. Este se comporta como un sólido armónico y en el sitio del Sn2+ no presenta anisotropía vibracional. Corresponde a una fase bien definida en composición. La información combinada de las técnicas utilizadas permite suponer que éste óxido sería uno del tipo C de tierras raras, con una estructura distorsionada. La utilización de microscopía electrónica de alta resolución evidencia la presencia de defectos en dos direcciones, presumiblemente sobre la estructura del SnO.
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