Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
Facultad de Ciencias Exactas
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Tesis Tesis de doctorado |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
1984
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2386 |
| Aporte de: |
| Sumario: | Facultad de Ciencias Exactas |
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