Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas

Facultad de Ciencias Exactas

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Sferco, Silvano J.
Otros Autores: Passeggi, Mario G.
Formato: Tesis Tesis de doctorado
Lenguaje:Español
Publicado: 1984
Materias:
Acceso en línea:http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2386
Aporte de:
id I19-R120-10915-2386
record_format dspace
institution Universidad Nacional de La Plata
institution_str I-19
repository_str R-120
collection SEDICI (UNLP)
language Español
topic Ciencias Exactas
Física
Física
Semiconductores
Estructura electrónica y enlaces químicos de sólidos
spellingShingle Ciencias Exactas
Física
Física
Semiconductores
Estructura electrónica y enlaces químicos de sólidos
Sferco, Silvano J.
Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
topic_facet Ciencias Exactas
Física
Física
Semiconductores
Estructura electrónica y enlaces químicos de sólidos
description Facultad de Ciencias Exactas
author2 Passeggi, Mario G.
author_facet Passeggi, Mario G.
Sferco, Silvano J.
format Tesis
Tesis de doctorado
author Sferco, Silvano J.
author_sort Sferco, Silvano J.
title Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
title_short Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
title_full Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
title_fullStr Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
title_full_unstemmed Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
title_sort estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
publishDate 1984
url http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2386
work_keys_str_mv AT sfercosilvanoj estructuraelectronicadedefectosconnivelesprofundosensemiconductoresmediantecalculosdeclustersportecnicassemiempiricas
bdutipo_str Repositorios
_version_ 1764820466342559744