Medición y análisis estadístico para la caracterización de RF-MEMS

En este trabajo muestra la metodología empleada en la medición y caracterización de micro llaves MEMS para microondas, desarrollada en el laboratorio de caracterización de microdispositivos de la UNSAM.

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bonaparte, Juan, Sentoni, Guillermo, Merletti, Gustavo
Formato: Objeto de conferencia
Lenguaje:Español
Publicado: 2011
Materias:
Ingeniería
RF-MEMS
VNA
calibración Solt
Probe station
MicroLab
Acceso en línea:http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/121959
Aporte de:
SEDICI (UNLP) de Universidad Nacional de La Plata
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