Monte Carlo simulation of characteristic secondary fluorescence in electron probe microanalysis of homogeneous samples using the splitting technique
Electron probe microanalysis (EPMA) is based on the comparison of characteristic intensities induced by monoenergetic electrons. When the electron beam ionizes inner atomic shells and these ionizations cause the emission of characteristic X-rays, secondary fluorescence can occur, originating from io...
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| Autores principales: | Petaccia Trobatto, Mauricio Germán, Seguí Osorio, Silvina Inda María, Castellano, Gustavo Eugenio |
|---|---|
| Formato: | article |
| Lenguaje: | Inglés |
| Publicado: |
2022
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/11086/27481 http://dx.doi.org/10.1017/S1431927615000495 https://doi.org/10.1017/S1431927615000495 http://dx.doi.org/10.1017/S1431927615000495 |
| Aporte de: |
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