Análisis de componentes principales aplicado en espectroscopia de emisión K de alta resolución

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Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2019.

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Pasquevich, Ian Luis
Otros Autores:	Tirao, Germán Alfredo
Formato:	publishedVersion bachelorThesis
Lenguaje:	Español
Publicado:	2020
Materias:	Espectroscopia de alta resolución Entorno químico Estado de oxidación Análisis multivariado Análisis KB Multilinear algebra X-ray spectra Line shapes, widths and shifts
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/11086/14610
Aporte de:	Repositorio Digital Universitario (UNC) de Universidad Nacional de Córdoba

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spelling	I10-R141-11086-146102023-12-13T18:17:04Z Análisis de componentes principales aplicado en espectroscopia de emisión K de alta resolución Pasquevich, Ian Luis Tirao, Germán Alfredo Espectroscopia de alta resolución Entorno químico Estado de oxidación Análisis multivariado Análisis KB Multilinear algebra X-ray spectra Line shapes, widths and shifts Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2019. info:eu-repo/semantics/publishedVersion Fil: Pasquevich, Ian Luis. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación; Argentina. La espectroscopia de emisión de rayos X (XES) es una herramienta muy importante para el análisis elemental de una muestra y para estudiar la estructura atómica de los átomos, actualmente se ha convertido además en una técnica poderosa para estudiar el entorno químico de los compuestos. En este trabajo se analizaron los espectros de alta resolución de unas perovskitas de 1− 0,5 0,5 3 con x=0;0.1;0.2;…;1 dado el actual interés en estudiar las propiedades magnéticas de perovskitas dopadas con cationes de metales de transición. Para realizar este análisis se aplicaron tanto técnicas experimentales (DRX, XPS) como métodos de análisis multivariado (análisis de componentes principales, análisis de correspondencias múltiples y análisis de conglomerados). X-ray emission spectroscopy (XES) is a very important tool for the elementary analysis of a sample and to study the atomic structure of atoms, nowadays it has also become a powerful technique to study the chemical environment of the compounds. In this work, the high-resolution spectra of perovskites of 1 −0.5 0.5 3 with x = 0; 0.1; 0.2; ...; 1 were analyzed given the current interest in studying the magnetic properties of perovskites doped with metal cations of Transition. To perform this analysis, both experimental techniques (DRX, XPS) and multivariate analysis methods (principal component analysis, multiple correspondence analysis and cluster analysis) were applied. info:eu-repo/semantics/publishedVersion Fil: Pasquevich, Ian Luis. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación; Argentina. 2020-02-11T20:00:22Z 2020-02-11T20:00:22Z 2019-08 bachelorThesis http://hdl.handle.net/11086/14610 spa Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
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Análisis de componentes principales aplicado en espectroscopia de emisión K de alta resolución

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