LEADER 01438cam a22004817a 4500
001 005735
003 armpuni
005 20160923155442.0
008 160923s2001####xx#a##########000#0#und#d
020 |a 0201610914 
040 |a armpuni  |c armpuni 
041 |a en 
080 |a 535-34 
100 1 |a Cullity, B.D. 
245 1 0 |a Elements of X-Ray diffraction /  |c B.D. Cullity, S.R. Stock 
250 |a 3th. ed. 
260 |a New Jersey :  |b Prentice Hall,  |c c2001 
300 |a 664 p.;  |c 24 cm. 
650 7 |a crystal quality  |2 LEMB 
650 7 |a crystal structure  |2 LEMB 
650 7 |a diffraction  |2 LEMB 
650 7 |a diffractometer measurements  |2 LEMB 
650 7 |a difraccion  |2 LEMB 
650 7 |a geometria de cristales  |2 LEMB 
650 7 |a geometry of crystals  |2 LEMB 
650 7 |a laue photographs  |2 LEMB 
650 7 |a olycrystalline aggregates  |2 LEMB 
650 7 |a phase identification  |2 LEMB 
650 7 |a phase  |x diagram determination  |2 LEMB 
650 7 |a polymers  |2 LEMB 
650 7 |a powder photographs  |2 LEMB 
650 7 |a quantitative phase analysis  |2 LEMB 
650 7 |a rayos x  |2 LEMB 
650 7 |a single crystals  |2 LEMB 
650 7 |a small angle scattering  |2 LEMB 
650 7 |a stress measurement  |2 LEMB 
650 7 |a transmission electron microscopy  |2 LEMB 
650 7 |a x  |x ray diffraction  |2 LEMB 
650 7 |a x  |x ray  |2 LEMB 
700 1 |a Stock, S.R. 
942 |c LB  |2 cdu 
945 |a JPA  |d 2005-03-30 
999 |c 5734  |d 6909