Efectos de la radiación sobre estructuras MOS (metal, óxido y semiconductor)

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Palumbo, Felix Roberto Mario
Otros Autores: Faigón, Adrián Néstor
Formato: Tesis Libro
Lenguaje:Español
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
LEADER 00938cam a22002417a 4500
001 BIBLO-32811
003 AR-BaUEN
005 20250311104841.0
008 010611s2000 ag ||||f m||| 00| 0|spa|d
040 |a AR-BaUEN  |b spa  |c AR-BaUEN 
084 |a FIS 
100 1 |a Palumbo, Felix Roberto Mario 
245 1 0 |a Efectos de la radiación sobre estructuras MOS (metal, óxido y semiconductor) 
300 |a 62 p. 
500 |a Material ubicado en Hemeroteca del Departamento de Física (hemerote@df.uba.ar - (011) 5285-7569). 
502 |b Licenciado en Ciencias Físicas  |c Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (FCEN-UBA)  |d 2000 
690 1 0 |a MATERIA CONDENSADA 
690 1 0 |a SEMICONDUCTORES 
690 1 0 |a METAL 
690 1 0 |a OXIDO 
690 1 0 |a RADIACION 
700 1 |a Faigón, Adrián Néstor 
962 |a info:eu-repo/semantics/bachelorThesis  |a info:ar-repo/semantics/tesis de grado  |b info:eu-repo/semantics/publishedVersion